Nidec SYS > Misurazione spessore nastro
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Nidec SYS offre un’ampia gamma di unità di misura dello spessore del nastro come dispositivi di misurazione per il monitoraggio e il controllo delle materie prime o come componenti per il controllo dei processi a valle.
La misurazione avviene tramite sensori a contatto analogici o digitali oppure senza contatto tramite misurazione differenziale laser.

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CARATTERISTICHE:

  • Design compatto
  • Posizione del punto di misurazione regolabile
  • Supporto regolabile in altezza
  • Coperchio di protezione in acciaio inossidabile
  • Fino a quattro punti di misurazione
  • Sensori analogici, digitali o laser